http://www.mikro-news.de/ Mikro-News.de - das Portal für die Mikroskopie Copyright 2012 Sun, 20 May 2012 09:27:56 +0000 Contentpapst 2009.2 (http://www.sandoba.de/) de-de Tue, 15 May 2012 00:00:00 +0000 Das hochauflösende aufrechte Mikroskop DSX500 für alle Kontrastverfahren Hamburg, Mai 2012 – Das DSX500 ermöglicht bei einfacher Bedienung für jeden Anwender fortgeschrittene Analysen, unabhängig von seiner Erfahrung. Dank der motorischen Steuerung bietet das DSX500 eine einfache Auswahl des optimalen Mikroskopieverfahrens, einschließlich differentiellen Interferenzkontrasts und MIX, einer Kombination aus Dunkel- und Hellfeldtechnik. Die intuitive Benutzeroberfläche ermöglicht immer die Auswahl des besten Mikroskopieverfahrens. Mit der automatischen Fokussierung und der optimierten Beleuchtung lassen sich herausragende Bilder auf einfache Weise erzeugen. Dem Anwender steht außerdem die Panoramafunktion zur Verfügung, die das Sehfeld erweitert – bei Beibehaltung der hohen Auflösung – in 2-D und 3-D. Durch Berühren des Touchscreen-Monitors werden exakte Inspektionsdaten und resultierende Berichte auf einen Klick abgerufen. Das DSX500 bietet dem Anwender ein breites Spektrum an Beleuchtungsoptionen. Mit dem DSX500 kann er einfach Hellfeld, Dunkelfeld, differentiellen Interferenzkontrast (DIC), Polarisation (PO) oder die MIX-Funktion auswählen, indem er die automatisch erzeugten Vorschaubilder auf dem Bildschirm berührt, unabhängig von seiner Erfahrung. Die neue MIX-Funktion kombiniert Hellfeldmessungen mit LED-Dunkelfeldbeleuchtung und ermöglicht damit eine völlig neuartige Methode zur Erkennung von Defekten und Unregelmäßigkeiten bei der Betrachtung der Probe. Damit eröffnen sich ganz neue Anwendungsmöglichkeiten. In Kombination mit den Funktionen High Dynamic Range (HDR) und WiDER, die den Kontrast optimieren und die Schärfe erhöhen, kann der Anwender auf einfache Weise Bilder mit hoher Wiedergabetreue und ohne Halobildung oder Schatten erzeugen. Das DSX500 beruht auf derselben Philosophie wie der DSX100, umfasst aber einen motorischen 13x-Zoombereich. Neue Optiken bieten einen hervorragenden Kontrast, mit dem eine zuverlässige 3-D-Analyse möglich ist. Die Verwendung speziell entwickelter Objektive mit langem Arbeitsabstand ermöglicht darüber hinaus die Inspektion und Messung von Proben mit ungleichmäßigen Oberflächen. Die Gefahr einer Beschädigung (des Mikroskops oder der Probe) besteht nicht, da Objektiv und Probe weniger kontaktanfällig sind. Das opto-digitale Mikroskop DSX500 weist alle benutzerfreundlichen Funktionen auf, die sich auch bei allen anderen Modellen der DSX Serie finden. Bei diesem rechnergestützten System erfolgt die Steuerung über eine anwenderfreundliche Benutzeroberfläche mit Touchscreen-Funktionen. Die „Bestes Bild“-Funktion gewährleistet jederzeit die Erfassung des optimalen Bildes, während drei Betriebsarten sicherstellen, dass die relevanten Funktionen und Anleitungen auf den Erfahrungsstand des Anwenders zugeschnitten sind. Durch Integration einer hochwertigen CCD-Kamera sowie spezieller Objektive, einer intuitiven Schnittstelle und eines breiten Spektrums an Darstellungs- und Beleuchtungsoptionen fungiert das DSX500 als komplettes Analyse- und Inspektionssystem für jede Anwendung. Wenden Sie sich bitte an: Olympus Deutschland GmbH Andrea Rackow Marketing Kommunikation Tel.: +49 40 2 37 73-4612 Fax: +49 40 23 08 17 E-Mail: mikroskopie@olympus.de www.olympus.de http://www.mikro-news.de/news/fortschrittliche-industrielle-bildgebung-ganz-einfach-.html http://www.mikro-news.de/news/fortschrittliche-industrielle-bildgebung-ganz-einfach-.html weitere Pressemeldungen Mon, 14 May 2012 00:00:00 +0000 Physiker der Universität Jena entwickeln mit Kollegen aus Israel numerisches Verfahren zur Verbesserung der Auflösung von Mikroskopen / Publikation in „Nature Materials“ 11.05.2012. -- Jedes Mikroskop – auch das Allerbeste – hat ein Auflösungslimit. Wie der Physiker Ernst Abbe bereits Ende des 19. Jahrhunderts beschrieb, werden Punkte, die näher aneinanderliegen als die halbe Wellenlänge des verwendeten Lichts, in der mikroskopischen Aufnahme nicht mehr getrennt abgebildet. Bei grünem Licht mit einer Wellenlänge von 520 Nanometer liegt die sogenannte Abbesche Auflösungsgrenze etwa bei 260 Nanometern. Prof. Dr. Alexander Szameit von der Uni Jena. Foto: Jan-Peter Kasper/FSU „Diese physikalische Auflösungsgrenze zu umgehen und in immer kleinere Dimensionen vorzustoßen, das versuchen Wissenschaftler bereits seit über hundert Jahren“, sagt Prof. Dr. Alexander Szameit von der Friedrich-Schiller-Universität Jena. Mit Hilfe neuartiger Verfahren wie beispielsweise optischer Rasternahfeldmikroskopie oder Fluoreszenzmikroskopie gelinge dies bereits. „Allerdings haben diese den Nachteil, über die Probe scannen zu müssen und daher nicht in Echtzeit arbeiten zu können“, sagt der Juniorprofessor für Diamant-/Kohlenstoffbasierte optische Systeme. Wissenschaftler des Technion-Israel Institute of Technology in Haifa haben in enger Zusammenarbeit mit Prof. Szameit und seinen Kollegen vom Institut für Angewandte Physik einen anderen Weg eingeschlagen. Im renommierten Magazin „Nature Materials“ berichten die Forscher von einer rein mathematischen Methode, die das Auflösungsvermögen jedes Mikroskops etwa um den Faktor zehn verbessern kann (DOI: 10.1038/NMAT3289). Für den hochauflösenden Einblick in die Nanowelt benötigen die Physiker keine neuartige Optik im Mikroskop. „Wir haben einen numerischen Algorithmus entwickelt, mit dessen Hilfe aus den vorliegenden mikroskopischen Daten ein deutlich höher aufgelöstes Bild berechnet werden kann“, sagt Alexander Szameit. Voraussetzung dafür ist das Wissen, dass das abzubildende Objekt aus einer begrenzten Anzahl an Punkten besteht – es sich also nicht einfach um ein „Rauschen“ handelt. „Anhand des Algorithmus errechnet der Computer die fehlenden Bildinformationen, welche dann die ursprüngliche Abbildung ergänzen“, erläutert der Jenaer Physiker. In der vorliegenden Arbeit haben Alexander Szameit und seine Kollegen lichtmikroskopische Aufnahmen von Proben bearbeitet, deren nur 100 Nanometer kleine Details zunächst lediglich unscharf und verschwommen abgebildet waren. Nach der Bearbeitung am Computer waren diese Details klar und deutlich zu sehen, obwohl sie mit ihrer Größe deutlich unter der Auflösungsgrenze von 260 Nanometern lagen. Die Idee für das innovative Verfahren stammt aus der Arbeitsgruppe um Prof. Mordechai Segev vom Israel Institut of Technology in Haifa. Alexander Szameit hat dort von 2009 bis 2011 als Postdoc geforscht und arbeitet bis heute mit den dortigen Kollegen eng zusammen. Originalpublikation: Szameit A. et al. Sparsity-based single-shot subwavelength coherent diffractive imaging, Nature Materials, May 2012, Vol. 11, DOI: 10.1038/NMAT3289 Kontakt: Prof. Dr. Alexander Szameit Institut für Angewandte Physik der Friedrich-Schiller-Universität Jena Albert-Einstein-Straße 15, 07745 Jena Tel.: 03641 / 947985 E-Mail: szameit[at]iap.uni-jena.de Quelle: idw http://www.mikro-news.de/news/mehr-sehen-als-das-abbesche-limit-erlaubt.html http://www.mikro-news.de/news/mehr-sehen-als-das-abbesche-limit-erlaubt.html weitere Pressemeldungen Fri, 04 May 2012 09:45:00 +0000 Das DSX Portfolio – eine neue Ära der opto-digitalen Industriemikroskopie Hamburg, Mai 2012. Olympus hat seine neue Produktfamilie mit opto-digitalen Mikroskopen vorgestellt: die DSX Serie. Dank der fortschrittlichen Optik und Elektronik im Zusammenspiel mit dem bewährten Know-how von Olympus sind die DSX Mikroskope extrem bedienungsfreundlich und absolut zuverlässig. Drei Modelle stehen zur Auswahl: das schwenkbare Zoom-Mikroskop DSX100, das hochauflösende aufrechte Mikroskop DSX500 und das hochauflösende inverse Mikroskop DSX500i. Somit kann Olympus ein komplettes Inspektionssystem anbieten, das alle Anforderungen der Forschung und Entwicklung sowie der Qualitätskontrolle erfüllt. Neben vielen anderen gehören Inspektion und Analyse in der Automobilbranche, Paläontologie, Geologie, Herstellung von Leiterplatten, im Bereich Faserstruktur, Mikrokanäle, Metallografie sowie für die Geometrie kleiner Teile zu den typischen Anwendungen. Jeder Anwender erzielt fachmännische Ergebnisse, auch ohne Verständnis der technischen Aspekte der Mikroskopie. Da Mikroskopie und Inspektion immer größere Bereiche der Industriesektoren betreffen, nutzen immer mehr Einrichtungen regelmäßig Mikroskopietechniken. Innerhalb einer Einrichtung verfügen Anwender aber oft über recht unterschiedliche Erfahrungen mit der Mikroskopie. Daher muss das Inspektionssystem für Neueinsteiger und Experten gleichermaßen leicht zu bedienen sein. Die neue DSX Serie ermöglicht es dem Anwender, in der für ihn komfortabelsten Weise zu arbeiten. Ohne Okulare sind die Systeme äußerst ergonomisch und ermöglichen die Darstellung der Proben auf einem Touchscreen-Monitor. Auf diesem können die Mikroskope schnell und einfach über die intuitive Touchscreen-Schnittstelle oder alternativ mit einer herkömmlichen Computermaus gesteuert werden. Alle drei Modelle der DSX Produktfamilie nutzen dieselbe rechnergestützte Funktionsweise. Somit können Bediener ohne weiteres von einem Modell auf das andere umsteigen. Spezielle Schulungen erübrigen sich. Die Bildanalyse ist äußerst intuitiv. Die DSX Vorschaufunktion ermöglicht eine schnelle und einfache Auswahl der besten optischen Technik ohne zeitraubende Einstellungen. Das System erzeugt automatisch eine Auswahl mit Vorschaubildern, die als Miniaturansichten für jede Technik dargestellt werden – Hellfeld, Dunkelfeld und differentieller Interferenzkontrast (DIC). Der Anwender berührt lediglich den Bildschirm, um die bevorzugte Bilddarstellung auszuwählen. Verschiedene Betriebsarten bieten für jeden Anwender die geeignete Option. Der Lernmodus führt den Neueinsteiger durch die einzelnen Bedienungsschritte. Der erweiterte Modus hingegen bietet einem Anwender mit Grundkenntnissen zusätzliche Flexibilität. Der Bediener-Modus ermöglicht die individuelle Anpassung der Schnittstelle, sodass nur die für Routinearbeiten benötigten Funktionen sichtbar sind. Die Software bietet außerdem die Konfiguration von Benutzerprofilen und speziellen Protokollen. Sie richtet sich damit insbesondere an den erfahrenen Anwender, der Routineaufgaben optimieren möchte. Diese auf spezielle Anforderungen abgestimmten und zugeschnittenen Profile können schnell und einfach gespeichert und abgerufen werden. Durch Kombination von Funktionen wie HDR (High Dynamic Range) und WiDER mit erweitertem optischen Zoom und Spezialobjektiven können hochaufgelöste Bilder im optimalen Format für die einzelne Anwendung mühelos erzeugt werden. Die neue Zoomoptik reduziert Halobildung und Überstrahlungen, um Bilder mit optimaler Schärfe zu produzieren. Die Speziallinsen kombinieren eine überlegene Optik mit komplexer Bildverarbeitung für präzise, exakte und wiederholbare Messungen – jederzeit. Die DSX Serie setzt einen Maßstab für die optische Mikroskopie und die berührungslose Messtechnik. Europa-Launch der DSX-Serie auf der Control 2012 – Halle 1 – Stand 1512 Wenden Sie sich bitte an: Olympus Deutschland GmbH Andrea Rackow Marketing Kommunikation Tel.: +49 40 2 37 73-4612 Fax: +49 40 23 08 17 E-Mail: mikroskopie@olympus.de www.olympus.de http://www.mikro-news.de/news/discover-a-new-dimension.html http://www.mikro-news.de/news/discover-a-new-dimension.html weitere Pressemeldungen Fri, 04 May 2012 00:00:00 +0000 LOTUS MCX51 Biologisches Mikroskop mit LED-Beleuchtung und Plan Infinitiv Objectiven Österreich, St. Veit/Glan; April 2012. -- In Kürze steht qualitäts- und kostenbewussten Anwendern aus dem Life Science Bereich ein Mikroskop zur Verfügung, das ausstattungsmäßig in diesem Preissegment seinesgleichen sucht! MICROS hat das neue Gerät mit LED Beleuchtung und selbstverständlich seinen patentierten Glastisch ausgestattet. Eine SMART SENSE Technik im Gerät bewirkt eine automatische Ausschaltung des Gerätes wenn der Anwender den Arbeitsplatz verlässt. Neben der langlebigen LED Beleuchtung ist dies ein weites Merkmal, die es ermöglicht, mit dieses Gerät umweltfreundlich und energiesparend zu arbeiten. Da das Gerät aus sehr stabilen Teilen gefertigt ist, eignet es sich hervorragend für den Dauereinsatz im Kurs- und Routinebetrieb. Durch die Fixierung der einzelnen Komponenten wie Okulare, Kondensor und Objektive können diese auch im Universitätsbetrieb nicht verlorengehen. Durch die integrierte Kabelaufwicklung und den optionalen Transportkoffer kann das Gerät leicht verstaut und transportiert werden. Durch die plankorrigierten PURE ICO2 Plan Objektive und dem Systemkondensor, zusammen mit der gleichmäßigen und lichtstarken LED Beleuchtung, sind klare Bilder bei jeder Beleuchtungsstufe garantiert. Ein Arctypetubus, durch welchen sich der Einblickwinkel in die Okulare in 2 Stufen auf den jeweiligen Benutzer einstellen lässt, sowie der nach hinten geneigte 4fach Revolver und die ergonomisch perfekte Anordnung der Bedienelemente ermöglicht dem Anwender eine möglichst ergonomische und ermüdungsfreie Bedienung des Mikroskops. Auch der Multisystemkondensor mit seinen Skalen für jedes Objektive erleichtert eine schnelle Voreinstellung für optimale Betrachtungsergebnisse. Die Einschübe für DF und PC ermöglichen eine problemlose Nachrüstung des Gerätes und es kann rasch und kostengünstig in eine andere Betrachtungsmethode gewechselt werden. Der aufgesetzte, zahnstangenlose Kreuztisch mit integrierter ultraharter Glasplatte ist ein weiteres Feature das Freude machen wird mit diesem Gerät zu arbeiten. Durch die fehlende Zahnstange wird das Risiko für Verletzungen an der Hand eliminiert. Die Glasplatte ist resistent gegen Kratzer und Chemikalien und gewährleistet eine stets ordentliche Tischoberfläche. Und sollte es doch einmal nötig sein, ist sie mit einem einfachen Handgriff ausgetauscht und die Arbeitsfläche ist neu. Ein Fokusanschlag verhindert außerdem den Zusammenstoß von Objekt und Objektiv und beugt somit einer möglichen Beschädigung beider vor. Wahlweise gibt es das Gerät auch mit einem Gleittisch ausgestattet. Der Tisch besteht aus einer runden Platte welche sehr leichtgängig auf einem Fettfilm gleitet. Der Vorteil dieser Variante ist, dass das Objekt, welches durch Objektklemmen fixiert ist, frei und sehr schnell positioniert werden kann. Auch arbeiten in heißen und feuchten Klima ist kein Problem für das neue LOTUS MCX51. Dank eine speziellen Anti-Pilz Behandlung der optischen Systeme bleiben die Abbildungen scharf und klar. Kontakt: MICROS Produktions- und HandelsgesmbH. Gewerbezone 5 - Hunnenbrunn 9300 St. Veit/Glan Austria Tel.: +43 – 4212 30 901 Fax: +43 – 4212 30 901 – 90 www.micros.at office@micros.at http://www.mikro-news.de/news/micros-austria-stellt-sein-neues-biologisches-mikroskop-lotus-mcx51-mit-vielen-interessanten-features-vor.html http://www.mikro-news.de/news/micros-austria-stellt-sein-neues-biologisches-mikroskop-lotus-mcx51-mit-vielen-interessanten-features-vor.html TopNEWS Fri, 13 Apr 2012 00:00:00 +0000 12. April 2012. Große europäische Forschungsprojekte einzuwerben, ist an deutschen Fachhochschulen nicht die Regel, diese auch noch zu koordinieren, eher selten. Beides ist Prof. Dr. Vladimir M. Mirsky aus der Fakultät für Naturwissenschaften der Hochschule Lausitz (FH) in Senftenberg mit dem Projekt „NANODETECTOR – Hochempfindlicher plasmonischer Nachweis einzelner Nanopartikel“ im 7. EU- Forschungsrahmenprogramm gelungen. Das KMU-orientierte Verbundforschungsprojekt hat die Entwicklung und Testung von Technologien zum Nachweis und der Analyse einzelner Nanopartikel in komplexen Umgebungen zum Ziel. Prof. Dr. Vladimir M. Mirsky (re.) und Dr. Shavkat Nizamov an einem Versuchsstand für das neue europäische Forschungsprojekt NANODETECTOR. Foto: Witzmann Dafür soll ein neues experimentelles Phänomen genutzt werden, das kürzlich von einem der Projektpartner entdeckt wurde: Einzelne Objekte, die kleiner sind als die Länge der Lichtwelle, die auf sie trifft, bleiben normalerweise unsichtbar, können aber messbare optische Signale in der Oberflächenplasmonenresonanz-Mikroskopie hervorrufen. Das eröffnet die einzigartige Möglichkeit des hochempfindlichen online-Nachweises von Nanopartikeln. Die Technologie soll in einem kompakten Gerät umgesetzt werden, das mit flüssigen und gasförmigen Proben getestet wird und für verschiedene praxiswichtige analytische Aufgaben einsetzbar ist. Das System eignet sich für die Umweltüberwachung bei der Produktion und Anwendung von Nanopartikeln und Nanomaterialien. Im Rahmen des Nanodetector-Projektes wird diese Methode von Herstellern für Nanopartikel und Nanopartikel-basierten Materialien zur Überwachung der Nanopartikel am Arbeitsplatz und in den Abfallprodukten sowie zur Ermittlung der Nanopartikel-Freisetzung während der Alterung Nanopartikel-basierter Materialien erprobt. Die Europäische Union stellt für dieses Verbundforschungsprojekt Fördermittel in Höhe von fast drei Millionen Euro zur Verfügung. Teilnehmer des Projektes mit einer Laufzeit von Juni 2012 bis November 2015 sind Forschungseinrichtungen sowie kleine und mittlere Unternehmen in Deutschland, Großbritannien, Tschechien, Litauen, Italien und der Schweiz. Konkret sind gemeinsam mit der Hochschule Lausitz folgende Partner an dem Projekt beteiligt: Leibniz-Institut für analytische Wissenschaften (Deutschland), Fraunhofer-Institut für Biomedizinische Technik (Deutschland), Mivitec GmbH (Deutschland), Imperial College London (Großbritannien), Upperton Ltd. (Großbritannien), Hybrid Integrated Technologies s.r.o. (Tschechien), Optolita UAB (Litauen), MBN Nanomaterialia S.p.A. (Italien), Phasis S.a.r.l. (Schweiz). Weitere Informationen: Professor Dr. rer. nat. habil. Vladimir M. Mirsky Hochschule Lausitz (FH) Fakultät für Naturwissenschaften Studiengang Biotechnologie E-Mail: Vladimir.Mirsky@hs-lausitz.de Tel.: 03573 85-917 www.nanodetector.eu/ http://www.mikro-news.de/news/hochschule-lausitz-koordiniert-europaeisches-forschungsprojekt.html http://www.mikro-news.de/news/hochschule-lausitz-koordiniert-europaeisches-forschungsprojekt.html weitere Pressemeldungen Thu, 05 Apr 2012 09:25:00 +0000 5. April 2012. -- WITec hat einen neuen Übersichtskatalog veröffentlicht, der das gesamte WITec Produktportfolio eingehend beleuchtet. Auf insgesamt 46 Seiten werden die potentiellen Anwendungen, die Features mit Zubehörteilen und die Modularität der alpha300 und alpha500 Mikroskop Serien in einem komplett neuen Look anschaulich illustriert. Somit ist die neue Broschüre ein ideales Nachschlagewerk für Geräte im Bereich des konfokalen Raman Imaging und der Scanning Probe Mikroskopie. Das Format und die Anordnung der Inhalte nehmen besonderen Bezug auf die WITec-Philosophie einer modularen Produktfamilie und führen den Leser mit technischen Zeichnungen, Abbildungen, Tabellen und detaillierten Beschreibungen durch die umfassenden Informationen. Kunden und Interessenten haben damit eine verlässliche Entscheidungshilfe an der Hand, um festzulegen welches System sich am besten für Ihre Anwendung eignet. Der Katalog ist als Download verfügbar unter: www.witec.de/en/company/witecnews/news.php?id=74 Über WITec: Die WITec GmbH ist einer der weltweit führenden Hersteller von hochauflösenden optischen und Rastersonden-Mikroskopen. Eine modulare Produktlinie erlaubt die Kombination verschiedener Mikroskopietechniken wie Raman, SNOM oder AFM in einem Gerät und ermöglicht so die umfassende und flexible chemische, strukturelle und optische Analyse einer Probe. Die Hochleistungs-Mikroskop-Systeme werden weltweit vertrieben und vor allem in den Bereichen Materialwissenschaften, Life Science und Nanotechnologie eingesetzt. Das Unternehmen wurde 1997 gegründet und hat seinen Firmensitz in Ulm. Weitere Niederlassungen sind in den USA und seit Mai 2010 in Singapur. Geschäftsführende Gesellschafter sind die Firmengründer Dr. Olaf Hollricher, Dr. Joachim Koenen und Dr. Klaus Weishaupt. Das Unternehmen beschäftigt 37 Mitarbeiter und weist pro Jahr durchschnittliche Wachstumsraten von mehr als zehn Prozent auf. Kontakt: WITec GmbH Lise-Meitner-Str. 6 89081 Ulm Germany Tel: +49 (0) 731 140 70-0 Fax: +49 (0) 731 140 70-200 info@witec.de www.witec.de http://www.mikro-news.de/news/neuer-witec-produktuebersichtskatalog.html http://www.mikro-news.de/news/neuer-witec-produktuebersichtskatalog.html weitere Pressemeldungen Thu, 05 Apr 2012 00:00:00 +0000 4. April 2012. -- Die Gewinner des WITec Paper Awards 2011 wurden bekannt gegeben. Dieses Jahr geht der Preis an Diedrich A. Schmidt, North Carolina A&T State University, USA, Taisuke Ohta und Thomas E. Beechem von den Sandia National Laboratories, Albuquerque, New Mexico, USA für Ihr Paper: “Strain and charge carrier coupling in epitaxial graphene”, Phys. Rev. B 84, 235422 (2011). Das Paper wurde von Prof. Diedrich Schmidt eingereicht, der damit auch zusätzlich den 500 Euro Amazon Gutschein erhält mit dem der Preis dotiert ist. Das Bild zeigt von links nach rechts die Gewinner des WITec Paper Awards 2011: Diedrich Schmidt von der North Carolina A&T State University, USA sowie Taisuke Ohta und Thomas E. Beechem von den Sandia National Laboratories, Albuquerque, USA. Diedrich A. Schmidt hat erst kürzlich eine Professur für Nanophysik an der North Carolina State University angenommen und war davor an der Abteilung für Physikalische Chemie der Ruhr Universität Bochum (Prof. Havenith-Newen) tätig, an der er einen Großteil der prämierten Arbeit durchgeführt hat. Der WITec Paper Award ehrt jährlich die beste Veröffentlichung, die Ergebnisse und Bilder enthält welche mit einem WITec Mikroskop-System aufgenommen wurden. Eine WITec Jury bewertet dabei die eingereichten Paper hinsichtlich der wissenschaftlichen Relevanz, der Datenqualität und dem Maß der Gerätenutzung. Insgesamt habe 47 Autoren eine Veröffentlichung eingereicht. Aufgrund der hohen Anzahl der qualitativ hochwertigen Arbeiten hat die Jury beschlossen drei weitere Paper mit einer lobenden Anerkennung auszuzeichnen. Dies sind: “Confocal Raman microscope mapping as a tool to describe different mineral and organic phases at high spatial resolution within marine biogenic carbonates: case study on Nerita undata (Gastropoda, Neritopsina)”; G. Nehrke, Alfred Wegener Institut für Polar- und Meeresforschung, Bremerhaven und J. Nouet, Universität Paris Sud, Frankreich. (Biogeosciences, 8, 3761-3769, 2011) “Thermal Dynamics of Graphene Edges Investigated by Polarized Raman Spectroscopy” Ya Nan Xu, Da Zhan, Lei Liu, Hui Suo, Zhen Hua Ni, Thuong Thuong Nguyen, Chun Zhao, and Ze Xiang Shen, (ACS Nano, 2011, 5 (1), pp 147–152) Das Paper wurde eingereicht von Ya Nan Xu von der Nanyang Technological University, Singapore. “Hyperspectral Nanoscale Imaging on Dielectric Substrates with Coaxial Optical Antenna Scan Probes”, Alexander Weber-Bargioni, Adam Schwartzberg, Matteo Cornaglia, Ariel Ismach, Jeffrey J. Urban, YuanJie Pang, Reuven Gordon, Jeffrey Bokor, Miquel B. Salmeron, D. Frank Ogletree, Paul Ashby, Stefano Cabrini, and P. James Schuck (Nano Lett., 2011, 11 (3), 1201–1207). Diese Arbeit wurde von Alexander Weber-Bargioni, Molecular Foundry, Lawrence Berkeley National Laboratory, Berkeley, USA eingereicht. Als Preis für die lobende Anerkennung erhalten diese Einsender ein Springer „Confocal Raman Microscopy“ Buch welches von WITec Wissenschaftlern editiert wurde. Auch in 2012 wird WITec wieder einen Paper Award vergeben. Einreichungen können per E-Mail an papers@witec.de gesandt werden. Über WITec: Die WITec GmbH ist einer der weltweit führenden Hersteller von hochauflösenden optischen und Rastersonden-Mikroskopen. Eine modulare Produktlinie erlaubt die Kombination verschiedener Mikroskopietechniken wie Raman, SNOM oder AFM in einem Gerät und ermöglicht so die umfassende und flexible chemische, strukturelle und optische Analyse einer Probe. Die Hochleistungs-Mikroskop-Systeme werden weltweit vertrieben und vor allem in den Bereichen Materialwissenschaften, Life Science und Nanotechnologie eingesetzt. Das Unternehmen wurde 1997 gegründet und hat seinen Firmensitz in Ulm. Weitere Niederlassungen sind in den USA und seit Mai 2010 in Singapur. Geschäftsführende Gesellschafter sind die Firmengründer Dr. Olaf Hollricher, Dr. Joachim Koenen und Dr. Klaus Weishaupt. Das Unternehmen beschäftigt 37 Mitarbeiter und weist pro Jahr durchschnittliche Wachstumsraten von mehr als zehn Prozent auf. Kontakt: WITec GmbH Lise-Meitner-Str. 6 89081 Ulm Germany Tel: +49 (0) 731 140 70-0 Fax: +49 (0) 731 140 70-200 info@witec.de www.witec.de http://www.mikro-news.de/news/gewinner-des-witec-paper-award-2011-bekannt-gegeben.html http://www.mikro-news.de/news/gewinner-des-witec-paper-award-2011-bekannt-gegeben.html weitere Pressemeldungen Mon, 26 Mar 2012 00:00:00 +0000 Max-Planck-Innovation und Abberior unterzeichnen Lizenzvertrag zur Entwicklung von Fluoreszenzfarbstoffen für die hochauflösende Mikroskopie 22. März 2012. -- Für gestochen scharfe Bilder aus dem Nanokosmos sind nicht nur High-Tech-Mikroskope erforderlich. Erst mit speziellen Fluoreszenzfarbstoffen können Wissenschaftler die winzigen Details überhaupt sichtbar machen. Über die Entwicklung solcher Farbstoffe hat nun die Technologietransfer-Organisation der Max-Planck-Gesellschaft, Max-Planck-Innovation, mit der Firma Abberior GmbH einen Lizenzvertrag geschlossen. Herkömmliche (links) und hochauflösende (rechts) Fluoreszenzmikroskopie mit CAGE 500. Der Farbstoff wird erst durch UV-Licht fluoreszent. © MPI f. biophysikalische Chemie Mithilfe neuer, ausgeklügelter Mikroskopie-Techniken dringen Wissenschaftler in immer kleinere Welten vor. Damit Wissenschaftler Vorgänge in Zellen sichtbar machen können, müssen sie die daran beteiligten Strukturen und Moleküle mit Farbstoffen markieren. Solche Fluoreszenzfarbstoffe werden durch Licht zum Leuchten angeregt und geben Licht einer charakteristischen Wellenlänge ab. Der Lizenzvertrag zwischen Abberior und Max-Planck-Innovation soll die Neuentwicklung solcher Fluoreszenzfarbstoffe vorantreiben. „Der Vertrag mit Max-Planck-Innovation deckt einen Großteil unserer Farbstoff-Neuentwicklungen mit den Schutzrechten der Max-Planck-Gesellschaft ab und sichert uns die Exklusivität dieser Farbstoffe zu“, erklärt Gerald Donnert, Geschäftsführer der Abberior GmbH. Abberior ist eine Ausgründung des Max-Planck-Instituts für biophysikalische Chemie in Göttingen und der führende Hersteller von kommerziell erhältlichen Fluoreszenzfarbstoffen für neue Mikroskopie-Techniken. Bei der Entwicklung neuer Fluoreszenzfarben setzt das Unternehmen auf das Know-How der vier Firmengründer Stefan W. Hell, Vladimir Belov, Lars Kastrup und Gerald Donnert. Als Pioniere auf dem Gebiet der hochauflösenden Mikroskopie haben sie bereits zahlreiche Erfindungen zum Patent angemeldet. So hat Stefan Hell, Direktor am Max-Planck-Institut für biophysikalische Chemie, die sogenannte STED-Mikroskopie entwickelt (Stimulated Emission Depletion). Damit konnten er und sein Team das Auflösungsvermögen in der Lichtmikroskopie bis auf 15 Nanometer steigern – bis vor wenigen Jahren galten noch 200 Nanometer als das theoretische Auflösungslimit. Durch die enge Verbindung zur Grundlagenforschung können Neuentwicklungen schnell in der Praxis getestet werden. Mittlerweile gibt es neben der STED-Methode auch andere Mikroskopie-Konzepte, mit denen Forscher sehr hohe Auflösungen erreichen. Die verwendeten Farbstoffe müssen dabei die speziellen Anforderungen der einzelnen Techniken genau erfüllen. Bei allen hochauflösenden Methoden verwirklichen die Markermoleküle einen Schalter zwischen ‚an‘ und ‚aus‘, der für die jeweilige Methode charakteristisch ist. Dabei müssen zwei oder mehr Farbstoffe aufeinander abgestimmt sein, so dass mehrfarbige, hochauflösende Aufnahmen möglich werden, mit denen verschiedene Strukturen markiert und sichtbar werden. In den nächsten Jahren dürfte die Nachfrage nach solch speziellen Fluoreszenzfarbstoffen weiter steigen: „Langfristig kann die hochauflösende Mikroskopie die herkömmliche Fluoreszenzmikroskopie in vielen Bereichen ersetzen“, so Donnert. Die neuen Mikroskopie-Techniken haben in den letzten Jahren Lebenswissenschaften revolutioniert. In Zukunft könnten die hochauflösenden Techniken auch in der medizinischen Diagnostik Einzug halten. Da sie den Forschern ganz neue Einblicke in zelluläre Vorgänge gewähren, werden sie dazu beitragen, Krankheiten wesentlich besser zu erkennen und zu behandeln. Ansprechpartner Markus Berninger Max-Planck-Innovation GmbH München Telefon: +49 89 290919-30 Fax: +49 89 290919-98 E-Mail: Markus.Berninger@Max-Planck-Innovation.de Dr. Gerald Donnert Geschäftsführer Abberior GmbH Telefon: +49 551 3072-4180 E-Mail: g.donnert@abberior.com http://www.mikro-news.de/news/leuchtende-farben-fuer-kleinste-details.html http://www.mikro-news.de/news/leuchtende-farben-fuer-kleinste-details.html weitere Pressemeldungen Tue, 20 Mar 2012 00:00:00 +0000 Fraunhofer FIT präsentiert auf der Analytica 2012 eine Software, die die Suche nach neuen Medikamenten gegen Krebs unterstützt. Ihre Architektur erlaubt eine parallele Bearbeitung mehrerer Analyseprozesse. Dadurch kann sie komplexe biologische Prozesse auch in großen Datenmengen besonders schnell verarbeiten und auswerten. 20.03.2012. -- Bei der Entwicklung neuer Wirkstoffe für die Krebstherapie setzen Forscher heute bildgebende Verfahren ein. Dabei entstehen große Mengen an Bilddaten. Ihre Auswertung ist zeitaufwändig und dauert oftmals länger als das Aufnehmen der Bilder. Aufgeräumte Oberfläche der Zeta Software: Mit wenigen Mausklicks wird die Software darauf trainiert, die Teilung von HeLa-Zellen zu erkennen. Bild: Fraunhofer FIT Hier hilft die Zeta Software, da sie einerseits die Auswertung vereinfacht und gleichzeitig auch große Datenmengen in kurzer Zeit verarbeiten kann. Mit wenigen Mausklicks wird die Software darauf trainiert, bestimmte Zellmuster zu erkennen und zu klassifizieren. Dadurch ist sie sehr flexibel für verschiedene biologische Fragestellungen einsetzbar. Die Zeta Software des Fraunhofer FIT wurde jetzt speziell auf das so genannte Live-Cell-Imaging-Verfahren angepasst, das ermöglicht, Krebszellen über ihren gesamten Lebenszyklus zu beobachten und aufzuzeichnen. Bei diesem Verfahren werden Wirkstoffe auf lebende Zellen aufgebracht – und zwar viele Tausend Mal in verschiedenen Ansätzen. Wirkstoffe, die die Teilung von Krebszellen verhindern aber gleichzeitig die gesunden körpereigene Zellen unberührt lassen, haben das Potential zu einem Medikament. Diese Experimente laufen weitgehend automatisiert ab. Ein computergesteuertes Mikroskop erstellt Bildserien der lebenden Zellen. Anschließend verarbeitet eine robuste Bildanalyse die aufgenommenen Bilddaten. Hierbei unterstützt zukünftig die Zeta Software die Arbeit der Krebsforscher, denn sie ermöglicht, die Teilung von lebenden Krebszellen besser beobachten und quantifizieren zu können. Eine besondere Herausforderung an die Bildanalyse bestand dabei darin, die einzelnen Phasen der Zellteilung zu differenzieren und sie miteinander in zeitlichen Bezug zu setzen. "Die Zellen müssen nicht nur als Objekte erkannt und den einzelnen Zellteilungsphasen zugeordnet werden, auch die Erkennung der zeitlichen Abfolge ist wichtig. Für jede Zelle wird also eine Historie angelegt", so Prof. Dr. Thomas Berlage, Leiter des Forschungsbereichs Life Science Informatik am Fraunhofer-Institut für Angewandte Informationstechnik FIT. Eine Besonderheit von Zeta ist seine Plug-In-Struktur, die die Software sehr flexibel adaptierbar macht. Vor Arbeitsbeginn werden über eine Konfigurationsdatei nur diejenigen Module in die Benutzeroberfläche geladen, die für die jeweilige Bildanalyse nötig sind. Mit dem Vordergrund-Hintergrund-Plug-In werden beispielsweise Zellobjekte vom Hintergrund getrennt. Hier bietet Zeta ein interaktives Verfahren an. Der Benutzer markiert mit der Maus einige Krebszellen und Hintergrundregionen. Die Software lernt anhand dieser Beispiele, die Zellen vom Hintergrund zu unterscheiden, und gibt direkt ein visuelles Feedback. Die Trainierbarkeit ist ein Vorteil der Software, weil dadurch auch neue Zelltypen erkannt werden, ohne dass Entwickler die Software anpassen müssen. Weitere Plug-Ins ermöglichen etwa die Trennung von Zellclustern in einzelne Zellobjekte, können Zellen verschiedenen Zellzyklusphasen zuordnen oder eliminieren die bei Live-Cell-Imaging-Experimenten typischen Bewegungsartefakte. Das Fraunhofer-Institut für Angewandte Informationstechnik FIT stellt Zeta auf der Analytica 2012 vom 17. – 20. April 2012 in München der Öffentlichkeit vor. Besuchen Sie uns auf dem Fraunhofer Gemeinschaftstand, Halle A1, Stand 433/530. Kontakt: Alex Deeg pr@fit.fraunhofer.de Telefon: +49 2241 14-2208 http://www.mikro-news.de/news/wirkstoffe-gegen-krebs-interaktive-software-vereinfacht-die-suche.html http://www.mikro-news.de/news/wirkstoffe-gegen-krebs-interaktive-software-vereinfacht-die-suche.html weitere Pressemeldungen Mon, 19 Mar 2012 00:00:00 +0000 19. März 2012. -- Mikro-Ramanspektroskopie und Rastersondenmikroskopie gehören heute in der Materialanalyse zur analytischen Standardausrüstung. Sie ermöglichen die Materialcharakterisierung im Mikro- und Submikrometerbereich. Die Vereinigung beider Techniken in Form von kombinierten Instrumenten bekommt dabei einen immer höheren Stellenwert. Sie ermöglichen einen weitaus umfassenderen Einblick in Materialeigenschaften, als es nur eine Technik alleine vermag. Insbesondere bei der Charakterisierung von Nanomaterialien zeigen sich die Vorteile. So ermöglicht der co-lokalisierte Raman-AFM-Ansatz beispielsweise durch die Ramanspektroskopie das schnelle Auffinden und die chemische Identifikation von Nanostrukturen – Stichwort schnelles Ramanimaging. Sind die Nanostrukturen lokalisiert, können sie anschließend über Nahfeldmethoden weitergehend charakterisiert werden. Insbesondere bei starken Ramanstreuern wie beispielsweise Kohlenstoffnanoröhrchen, Nanodrähten, Graphenen, oder lumineszenzartigen Quantenpunkten bewährt sich der co-lokalisierte Ansatz. Neben diesem Aufbau ermöglicht die spitzenverstärkte Ramanspektroskopie (TERS – Tip Enhanced Raman Spectroscopy) neben der topographischen Untersuchung die simultane molekulare Identifizierung mit einer räumlichen Auflösung weit unterhalb dem optischen Diffraktionslimit. HORIBA als innovativer Partner in der optischen Spektroskopie hat dieses wichtige Thema in Form einer aktuellen technischen Notiz aufgegriffen. Sie finden in der mehrseitigen Abhandlung über gekoppelte Raman-AFM-Techniken Prinzipielles sowohl zum co-lokaliserten Ansatz als auch zur TERS Technik. Ausgewählte Applikationsbeispiele aus dem jeweiligen Bereich zeigen das Potential der kombinierten Methoden. Abgerundet wird der Beitrag durch eine Tabelle, die in übersichtlicher Weise mögliche Raman-AFM-Kombinationen der Mikro-Ramanspektrometer aus dem Hause HORIBA mit Rastersondenmikroskopen führender AFM Hersteller zusammenfasst. Sind Sie interessiert? Fordern Sie die Technische Notiz an! HORIBA Jobin Yvon GmbH Hauptstr. 1 82008 Unterhaching Tel.: ++49 (0) 89 / 46 23 17-0 Fax: ++49 (0) 89 / 46 23 17-99 HORIBA Jobin Yvon GmbH Neuhofstr. 9 64625 Bensheim Tel.: ++49 (0) 6251 / 8475-0 Fax: ++49 (0) 6251 / 8475-20 http://www.mikro-news.de/news/mehr-aufklaerung-durch-gekoppelte-raman-afm-techniken-.html http://www.mikro-news.de/news/mehr-aufklaerung-durch-gekoppelte-raman-afm-techniken-.html weitere Pressemeldungen